儀器成套組成：本儀器由主機和兩套探頭等部件組成。導電類型P或N由數碼管顯示。探頭由冷、熱兩根配套使用。優(yōu)勢特征：熱電勢法中，熱探針具有恒溫可調功能，以適應寬范圍低電阻率導電類型測試的需要！冷、熱探針都采用即插式，方便更換。整流法中，運用整流法原理鑒定半導體導電類型的儀器，同時兼?zhèn)錅y試重摻的功能。本儀器關鍵器件采用專用集成電路，并采用優(yōu)質貼片工藝，儀器具有鑒定范圍寬、靈敏度高、穩(wěn)定性好、使用方便等特點。適用于半導體材料廠、半導體器件廠、科研單位、高等院校等對寬范圍特別是低電阻率半導體材料的導電類型(PN類型)測試的需要！
技術參數
1. PN 鑒定范圍：熱電勢法ρ=1×10-4～1.0×103 Ω-cm，整流法 ρ=1×10-2～1.0×104 Ω-cm2. 可測半導體材料尺寸： PN 鑒定 ：可接觸面 Smin= 3mm*3mm3. 探頭參數：熱電勢法 ⑴熱探頭：溫度調節(jié)范圍60℃～200℃，探針：鍍鎳“不老頭"⑵冷探頭： 單針式，整流法 鋼針鍍鎳4. 電源：220V±10% 50Hz， 功 耗：<20W5．工作環(huán)境：溫 度： -10℃～40℃ ，相對濕度： 50%～70%工作室內應無強電磁場干擾6. 外形尺寸及重量：主機:175mm（長）×200 mm（寬）×70mm（高）重量： 約1kg
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